產(chǎn)品中心
Product Center
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心顆粒黑點(diǎn)儀SP-BS-1908SUNPLUS塑料顆粒黑點(diǎn)儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
SUNPLUS塑料顆粒黑點(diǎn)儀顆粒表面的黑點(diǎn)是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要原因。由于顆粒的外形不規(guī)則及透光度不同，顆粒的黑點(diǎn)檢測(cè)一直是技術(shù)難點(diǎn)。Sunplus利用專門的光學(xué)成像方法，推出批次靜態(tài)檢測(cè)方法，可以有效解決顆粒的黑點(diǎn)檢測(cè)難題。具體地，把顆粒放在一個(gè)特制的玻璃皿中，玻璃皿有皿蓋，可以正向覆蓋也可以反向覆蓋，這樣可以對(duì)不同大小的顆粒都可以壓緊。
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,建材/家具,制藥/生物制藥,綜合 |
經(jīng)濟(jì)型SUNPLUS塑料顆粒黑點(diǎn)儀
顆粒表面的黑點(diǎn)是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要原因。由于顆粒的外形不規(guī)則及透光度不同，顆粒的黑點(diǎn)檢測(cè)一直是技術(shù)難點(diǎn)。Sunplus利用專門設(shè)計(jì)的光學(xué)成像方法，推出批次靜態(tài)檢測(cè)方法，可以有效解決顆粒的黑點(diǎn)檢測(cè)難題。這種靜態(tài)黑點(diǎn)檢測(cè)法的優(yōu)點(diǎn)是批次操作，檢測(cè)準(zhǔn)確， 還可以數(shù)顆粒的個(gè)數(shù)，從而獲得黑點(diǎn)顆粒比，為產(chǎn)品的質(zhì)量評(píng)判提供有價(jià)值的參數(shù)。
SUNPLUS塑料顆粒黑點(diǎn)儀用途Application
按相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分析樹脂顆粒的雜質(zhì)黑點(diǎn)的大小、數(shù)量，以及黑點(diǎn)顆粒占比。
適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。
也適用薄膜等透明體的黑點(diǎn)和內(nèi)在疵點(diǎn)的檢測(cè)和分析。
技術(shù)指標(biāo)Specifications
1.測(cè)量規(guī)格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標(biāo)準(zhǔn)，可在軟件界面選定。
2.最小檢測(cè)目標(biāo)： 0.1mm
3.檢測(cè)精度： 小于0.025mm
4.檢測(cè)面積：不小于200×200mm
5.器皿大?。?20mm×120mm凈面積，或定制
6.放大倍數(shù)：>20倍
7.光密度:不小于6000流明
8.光源要求: 24V/60W
9.供電電源：220V,50HZ
10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
儀器功能特點(diǎn)
1.測(cè)量黑點(diǎn)的大小和數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。
2.可提供黑點(diǎn)，以及膜片質(zhì)地紋路的分布圖譜。
3.黑點(diǎn)或膜片質(zhì)地分布可放大和縮小。
4.被測(cè)目標(biāo)可分類計(jì)數(shù)和統(tǒng)計(jì)。
5.按適用的標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告。
6.報(bào)告和圖譜可打印可儲(chǔ)存。
7.進(jìn)樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。
8.顆粒以透明器皿為載體，批次檢測(cè)。
上一個(gè)：
返回列表
